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电子元器件检测模式及依次有哪些?

电子元器件的检测项日及依次波及多个方面，具体的模式和依次会因元器件类型、运用界限以及海外或国度依次的不同而有所变化。以下是一些通用的电子元器件检测模式及相关依次的例子。

1.电阻器(Resistors):

1.电阻值测定:IEC 60115-1,IEC 60708,GB/T 6346.1

2.色环编码检査:IEC 60062,JS C0806

3.温度扫数测试:IEC 60115-2.JIS CO807

4.高温负载测试:IEC 60115-1

2.电容器(Capacitors):

1.申容值测定:IEC 60384-1.IEC 60384-25.GB/T 6346.2

2.等效串联电阻(ESR)测定:IEC 60384-17

3.走电流测试:IEC 60384-14,IEC 60384-17

4. 耐压测试:IEC 60384-1,IEC 60384-14

5.寿命测试:IEC 60384-1

3.电感器(lnductors):

1.电感值测定:IEC 60384-3,IEC 60062

2.直流电阻测定:IEC 60384-3

3.足够电流测试:IEC 60938-2

4.二极管和晶体管(Diodes and Transistors):

1.正反向导通测试:IEC 60747-5,IEC 60134

2.参数测试(如HFE):IEC 60747-5

3.温度特色测试:IEC 60747-5

4.高频性能测试:IEC 60747-5

5.集成电路(Integrated Circuits，lCs):

1.功能测试:JEDEC JESD 22,ISO 16750,ISO 9141

2.引|脚一致性测试:JEDEC JESD 22,ISO 16750

3.静电放电(ESD)测试:IEC 61000-4-2

4.温度特色测试:JEDEC JESD 22,ISO 16750

6.电源模块和集成电源电路:

1.输出电压测定:IEEE 1497,IEC 62368-1

2.成果测试:IEC 62368-1

3.过载保护测试:IEC 62368-1

7.电解电容器:

1.电容值测定:IEC 60384-1,IEC 60384-16

2.ESR测定:IEC 60384-16

3.走电流测试:IEC 60384-14

4. 耐压测试:IEC 60384-1

5.寿命测试:IEC 60384-1

8.传感器(Sensors):

1.智谋度测试:IEC 60947-5-2,1SO 7637

2.反映时辰测试:IEC 60947-5-2

3.温度特色测试:ISO 16750

9.集中器(Connectors):

1.集中可靠性测试:IEC 60512,ISO 16750

2.插拔长久性测试:IEC 60512.1SO 16750

3.导通测试:IEC 60512

10.开关(Switches):

1.开关手脚测试:IEC 61058,IEC 60947-1

2.寿命测试:IEC 61058,IEC 60947-1

3.电气性能测试:IEC 61058,IEC 60947-1

这些依次频频由海外电工委员会(IEC)、好意思国电子电气工程师协会(IEE)、国标依次化组织(1S0)等组织制定。在进行元器件测试时，应参考适用的依次以确保测试的准确性和一致性。